泰思肯VEGA钨灯丝扫描电子显微镜，采用全新的 Essence™ 电镜操控软件系统，将扫描形貌图像与元素实时分析集成于同一个扫描窗口中。这种组合大大简化了样品表面形貌的采集及含元素的数据分析工作，使得第四代 VEGA SEM 成为质量控制、故障分析和研究实验室中常规材料等检测提供更高效的分析的解决方案。

泰思肯MIRA通用分析型高分辨场发射扫描电镜 TESCAN MIRA 推出的第四代高性能扫描电子显微镜，配置有高亮度肖特基场发射电子枪，在TESCAN 的 Essence™ 操作软件的同一个窗口中实现了 SEM 成像和实时元素分析。这种结合大大简化了从样品中获取形貌和元素数据的过程，从而使得MIRA 成为质量控制、失效分析和实验室常规材料检测的有效分析解决方案。

MAGNA新一代超高分辨场发射扫描电镜

泰思肯 新一代超高分辨场发射扫描电镜 全新设计的CLARA超高分辨场发射扫描电镜可以提供的图像质量，具有*的扩展分析能力，能够满足现今工业研发和科研的所有需求，不仅适用于的纳米分析应用，也给操作者带来舒适、高效的使用体验。